Agilent Technologies - Auhthorized distributor
Labtech

  • O společnosti
  • Přístroje
  • Kontakt


  • Úvodní stránka
  • XRD Rentgenové difraktometry
  • STRESS-X

Difraktometr pro určení zbytkového napětí STRESS-X

Pro více informací, prosím, kontaktujte prodejce:
  • Ing. Martin Vondráček
  • +420 778 759 907
  • martin.vondracek@labtech.eu
STRESS-X


Technická specifikace
STRESS-X

STRESS-X je rentgenový difraktometr pro určení zbytkového napětí v materiálu. Tento difraktometr umožňuje díky svojí koncepci provádět nedestruktivní analýzu vzorků. Hlava difratoktometru je namontována na rameni robota s 6-ti stupni volnosti, který umožňuje analyzovat vzorky libovolných rozměrů a tvarů.

Difraktometr STRESS-X může být namontován buď v uzavřené kabině, které je vhodná pro laboratorní analýzu, anebo může být přístroj bez kabiny pro analýzu větších vzorků.

Zbytkové napětí je do materiálu vnášeno hlavně při jeho obrábění, broušení, válcování, svařování, tepelném vytvrzování a brokování. Kvantifikace zbytkového napětí je důležitá zejména pro stanovení trvanlivosti materiálu.

Odstup difraktometru od vzorku je přesně měřen pomocí laserového snímače (s přesností lepší než 10 um).

Technické parametry

 Ray GeneratorMaximum Output Power300 W
Output Stability< 0.01 % (for 10% power supply fluctuation)
Max Output Voltage30 kV
Max Output Current10 mA
Voltage Step Width0.1 kV
Current Step Width0.1 mA
Ripple0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz
Preheat and RampAutomatic preheat and ramp control circuit
Input Voltage230 Vac +/-10%, 50 or 60 Hz, single phase
X-Ray TubeTypeCeramic Cr Anode (options: other anode upon request)
CollimationMonocapillary collimator: diameter 0.5-1-2 mm
Max Output210 kW
GoniometerConfigurationsVertical geometry
Angular Range10 or 22°
Angular accuracy+/- 0.001°
DetectorTypeMicrostrip solid-state
CaseDimensionsWidth 658 mm, height 1059 mm, depth 762 mm
Leakage X-rays< 1 mSv/Year (full safety shielding according to the international guidelines)
Processing UnitComputer TypePersonal Computer, the latest version
Items controlledX-ray generator, detector, counting chain
Basic Data ProcessingUni-axial, bi-axial and tri-axial stress state analysis.
Dotaz


Tučně označené položky je nutné vyplnit.
Jméno (*)
E-mail (*)
Telefon
Váš Dotaz
Tučně označené položky je nutné vyplnit.

Naše nabídka přístrojů
  • OES Jiskrové spektrometry
  • XRD Rentgenové difraktometry
  • EDXRF Fluorescenční analyzátory
  • OES Analyzátory olejů
LABTECH s.r.o © 2011, Polní 23/340, CZ 639 00 Brno, Tel: +420 511 110 711, Fax: +420 543 210 115, info@labtech.eu
Webdesign : SHEAN